Конфокальный микроскоп для лазерной спектроскопии серии ICX - это субмикронный прибор для обнаружения, который широко используется при сканировании поверхности и измерении крошечных структур и специальных материалов.
Сферы применения
Комплексное оснащение
Микроскопия
Оснащение учебных заведений
Конфокальный лазерный микроскоп ICX1000
Описание
Измерительный модуль использует спектральную конфокальную технологию, которая позволяет бесконтактно и с высокой точностью измерять информацию о высоте различных материалов. В сочетании с модулем сканирования XY с обратной связью и алгоритмом 3D-визуализации можно получать тонкие поверхностные микроструктуры. В многофункциональном модуле постобработки графики также можно гибко выполнять обработку изображений, 3D-анализ, контурный анализ, анализ шероховатости и т.д. Лазерные спектроскопические конфокальные микроскопы серии ICX используются в прецизионной механической обработке, обработке поверхностей, трении и износе, разработке новых материалов, разработке топливных элементов, производстве MEMS, производстве пластин, прецизионном оптическом производстве, испытаниях деталей, микрожидкостных чипах, мембранных структурах, микро-нанодобавках и других областях.
Особенности: • Отражательная способность измеряемого объекта: 0,05%~100% • Источник света: синий лазер 450 нм • Разъем оптического волокна: FC/APC • Среднеквадратичная повторяемость: 0,05% • Среднеквадратичная точность: 0,1% • Повторяемость с шагом 1-σ: 0,02% • Точность с шагом 1-σ: 0,05% • Размер стола: 279x259 мм • Ход: 100x100 мм • Разрешение по оси XY: 0,1 мкм • Повторяемость: ±0,5 мкм • Точность позиционирования: ±1 мкм • Грузоподъемность: 5 кг • Максимальная скорость перемещения: 80 мм/с • Интервал сканирования: 1~100 мкм • Допустимая рабочая температура: 5-45℃ • Температура хранения: 0-45℃ • Относительная влажность: 5-95%, без конденсации • Источник питания: переменный ток (100-240 В/50 ~ 60 Гц, ~ 1 А) • Оптика и разрешающая способность (один из представленных ниже вариантов)
Модуль объектива KC-H1010
Модуль объектива KC-H1020
Модуль объектива KC-H1030
Модуль объектива KCH 1040
Диапазон измерения по оси Z (вверх и вниз от точки фокуса): ±55 мкм
Диапазон измерения по оси Z (вверх и вниз от точки фокуса): ±190 мкм
Диапазон измерения по оси Z (вверх и вниз от точки фокуса): ±550 мкм
Диапазон измерения по оси Z (вверх и вниз от точки фокуса): ±1700 мкм
Максимальный наклон поверхности: ±45°
Максимальный наклон поверхности: ±28°
Максимальный наклон поверхности: ±28°
Максимальный наклон поверхности: ±21°
Размер пятна лазера: 2 мкм
Размер пятна лазера: 10 мкм
Размер пятна лазера: 10 мкм
Размер пятна лазера: 20 мкм
Разрешение: 2 нм
Разрешение: 10 нм
Разрешение: 10 нм
Разрешение: 40 нм
Скорость сканирования: 200-4500 Гц
Скорость сканирования: 200-4500 Гц
Скорость сканирования: 200-4500 Гц
Скорость сканирования: 200-4500 Гц
Характеристики
Принцип сканирования: конфокальная лазерная спектроскопия